KM4410靜態(tài)位移校驗(yàn)儀

KM4410是一種便攜式效驗(yàn)設(shè)備，可用于現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室。主要用于電渦流位移傳感器靜態(tài)特性的標(biāo)定及電渦流位移傳感器配套位移測(cè)量?jī)x表的標(biāo)定。

校驗(yàn)參數(shù)位移

校準(zhǔn)精度：百分表精度技術(shù)指標(biāo)

校準(zhǔn)范圍：0 ～ 25mm         0 ～ 35mm     0 ～ 50mm

試件材料：40CrMoA

試件直徑：Φ 75mm 或Φ 105mm *大校準(zhǔn)探頭： Φ 25 mm

試件直徑：Φ 105mm 或Φ 125mm *大校準(zhǔn)探頭：Φ 35 mm

試件直徑：Φ 150mm 或Φ 175mm *大校準(zhǔn)探頭：Φ 50 mm